Лаборатория электронной микроскопии

Направления работы:

  1. Получение электронных изображений поверхности образцов высокого и сверхвысокого разрешения методом электронной микроскопии;
  2. Изучение морфологии и рельефа геологических образцов;
  3. Изучение элементного состава геологических объектов, локальный микроанализ и картирование образцов методом энергодисперсионного рентгеноспектрального анализа.

Рабочая группа

Хасанов Ринат Радикович

Зав. каф. региональной геологии и полезных ископаемых, доктор геолого-минералогических наук

тел. (843)292-52-60

E-mail: Rinat.Khassanov@ksu.ru
Галиуллин Булат Марсович

Инженер каф. региональной геологии и полезных ископаемых

тел. +7(999) 155-78-46

E-mail: taubulat@gmail.com

Оборудование

Растровый электронный микроскоп XL-30 ESEM (FEI, Нидерланды)

Позволяет получать изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением (до 20 нм при ускоряющем напряжении 1кВ, до 6 нм при ускоряющем напряжении 30 кВ), а также информацию о его строении, морфологии, фазе. Наличие энергодисперсионного спектрометра позволяет проводить качественно-количественный анализ химического состава приповерхностных слоёв образца.

РЭМ имеет возможность работать в режиме высокого вакуума, низкого вакуума, низкого вакуума в присутствии паров воды.
Просвечивающий электронный микроскоп Tehnai (FEI, Нидерланды)

Позволяет получать электронное изображение ультратонкого образца сверхвысокого разрешения (десятки ангстрем), информацию о его внутренней структуре, в частности:

  • определять тип и параметры кристаллической решетки матрицы и фаз;
  • определять ориентационные соотношения между фазой и матрицей;
  • изучать строение границ зерен;
  • определять кристаллографическую ориентацию отдельных зерен, субзерен;
  • определять углы разориентировки между зернами, субзернами;
  • определять плоскости залегания дефектов кристаллического строения;
  • изучать плотность и распределение дислокаций в материалах;
  • изучать процессы структурных и фазовых превращений;
  • изучать влияние на изучаемую структуру внешних факторов.
Вакуумная напылительная установка BAL–TECSCD 005 (Micro Surface Engr., Inc. США)

Установка предназначена для нанесения методом катодного и термического напыления сверхтонких покрытий углерода и золота на образцы в условиях среднего и высокого вакуума для получения проводящей поверхности. Напыление золотом необходимо для получения изображений высокого разрешения и правильной работы детекторов сканирующего электронного микроскопа.